干漆膜測厚儀儀器校滿度的校正方式

更新日期： 2021-11-09

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　　干漆膜測厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。用于對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等，在有關國家和標準中稱為覆層。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。

　　干漆膜測厚儀儀器校滿度的校正:

　　1、根據要測量的涂層厚度，選擇適當的標準膜片，進行滿度校準。

　　2、先將標準膜片放在鐵基上（或不帶涂層的測量體上）。

　　3、再將測量探頭壓在標準膜片上，測量值就顯示在顯示器上，若測量值與標準膜片不同，測量值可通過加1鍵或減1鍵來修正。修正時，測量探頭一定提起，否則，按加1鍵或減1鍵無效。

　　4、為保證校滿度的準確性，可通過多次測同一標準膜片來驗證。

　　干漆膜測厚儀儀器使用注意：

　　測量前，應清除表面上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。

　　不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。

　　不應在試件的彎曲表面上測量。

　　通常由于儀器的每次讀數并不*相同，因此必須在每一測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內進行多次測量，表面粗造時更應如此。